一、Maestro和GammaVision解谱软件
ORTEC 在软件的研发上始终保持与Windows操作系统的兼容性,操作界面十分友好而简洁。仅以GammaVision两点作为例证:对于系统的一切参数设置在同一个软件界面下完成。
MAESTRO软件
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Maestro是ORTEC的基本谱获取软件,可识别并处理ORTE 所有形式和型号的MCA信号。
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Maestro具体的功能包括:能谱获取、能量刻度、全能峰识别、编辑核素库、建立、存储和打印感兴趣区(ROI)、通过简单的任务流自动完成重复性测量任务等
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Maestro可设置增益细调、上/下甄别阈、调节高压、脉冲宽度等参数;启用/停止数字化谱仪稳谱功能;显示实时间/活时间......
GammaVision软件
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GammaVision是建立在Maestro基础上,集硬件控制、能谱获取、数据分析、报告生成和质量控制于一体的专业软件包。
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GammaVision具有多路谱图同步获取功能MDI(Multiple Detector Interface)。与Windows、Windows XP、Windows NT等软件良好兼容。
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GammaVision现在的版本是V7.02,其功能已臻完美。
五种分析引擎
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WAN32:GammaVision原始分析引擎,采用库引导寻峰,用于一般应用及分析研究型谱数据。
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GAM32:Mariscotti法寻峰,并对核素库进行“预过滤”,以减少环境样品测量的正向偏差。
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NPP-32:用于裂变产物复杂谱图的分析。
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ENV32: 用于环境水平样品的分析,Mariscotti法寻峰,同时产生活度与MDA报告。
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ROI32:感兴趣区分析引擎
能量与效率刻度
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在初次手工刻度完成之后,软件根据存储的标准源数据文件,可完全自动完成能量、峰形与效率重新刻度。
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效率曲线的定义方式有:单一函数多项式拟合、插值法、用户定义的“拐点”(Knee)前后的二项式拟合或线性拟合。
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可根据刻度过程中的图形清楚地判断刻度结果是否满意。
本底确定方法
谱分析中的校正
ZDT(Zero Dead Time)
TCC(True Coincidence Summing Correction)
重峰分析方法
多峰活度平均:
MDA计算:
分析结果报告:
不确定度报告
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活度百分比;
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计数或总计数不确定度;
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1、2或3个Sigma(s);
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系统误差或随机不确定度。
推演的同位素定量报告
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平均能量(EBar),按TID14844标准;
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碘当量:按TID14844标准;
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DAC(Maximum Permissible Concentration)。
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所有分析结果的报告均以与MS Access兼容的格式存储,用户可以自行编辑。
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所有与谱分析结果相关的硬件参数都随之一同保存,以便于回溯检验。
分析用核素库
质量保证(Quality Assurance)
按ANSI N13.30标准,随时记录每个探测器的以下参数:
为更好地服务于中国用户,ORTEC已推出了GammaVision中文版本。
ORTEC十分注重其软、硬件产品的延续性与相互兼容性,其所有软件产品都属于Connections-B32家族,并且可提供完整的开发工具软(A11-B32)。这样,无论年代有多久远,ORTEC的产品都有很好的互换性,且十分容易实现网络控制与通讯。
对ORTEC高纯锗谱仪的远程控制,只需要远程计算机与现场计算机均与网络连接即可轻松实现。
二、ANGLE V3.0 无源效率刻度软件
ANGLE V3.0是一款应用于实验室高纯锗伽玛谱仪的无源效率刻度软件。
ANGLE原理是基于对每套实验室谱仪,以点源的完整效率曲线为基准,结合绝对算法与相对算法,并由无数实验修正,以"效率转换”(efficiency transfer)方法推演其它柱体状(体源)、平面状(面源)或马林杯样品源等形式样品的效率刻度曲线。方法在较大程度上排除了采用纯粹的蒙特卡洛方法时,探测器参数输入偏差(尤其如死层厚度)而导致的较大误差。
在探测器长时间使用或经维修后特性发生变化情况下,用户可随时用成系列的一套标准源完成对系统的重新“表征”。
相对采用纯粹蒙特卡罗方法的软件,Angle软件的用户界面简洁,软件在相应图形中显示输入参数的位置,避免了术语不同导致的问题。
即将推出中文版Angle 4。

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效率误差通常不超过5%
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支持常用探测器类型,即将推出的Angle 4,支持NaI探测器
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支持马林杯容器
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支持点源、片源和体源
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可设置感兴趣能量点、拟合能量区间和拟合多项式系数
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图形化直观界面,输入参数时,同步图形显示输入参数的部位,避免术语不一致带来的问题
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预定义常用材料。新材料定义方式多样,可以元素混合物、化合物、化合物混合物方式定义新材料,操作简单
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多种报告界面,输出可复制到剪贴板,便于在Word等文字处理软件中编辑
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方法的可溯源性:如基准效率曲线所用的刻度点源为可溯源,则结果亦可溯源。
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ORTEC可在出厂时提供具体探测器(系统)的点源效率曲线。
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软件保存完整信息,某一参数发生变化时,可调用历史数据进行修改,再生成新的效率曲线
探测器、容器参数输入界面


新材料定义界面
设置感兴趣能量点、拟合能量区间和拟合多项式系数
获得实际样品的效率刻度曲线步骤:
1、输入探测器信息:名称、类型、晶体高度和直径、内接触极孔直径和深度、外接触极材料与厚度、晶体死层厚度、导出极材料与尺寸等;
2、输入样品容器信息:(对体源、马林杯或带支架样品):名称、形状、材料、(内外)直径、高度、壁厚等;
3、输入样品信息:名称、材料、重量、高度、直径等
4、保存以上信息,计算,生成效率曲线
5、命名得到的效率曲线,导入GamaVision