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产品详情
一、高纯锗探测器： “宽能”探测器：GEM-S/GEM-C/GEM-SP 三个系列可选：“精锐”、“全优”和“超精锐” 性能指标上综合了传统GEM与GMX探测器的优势；能量下限降至3keV;分辨率优异；中低能段效率显著提升； GEM-S和GEM-C系列采用超薄可靠接触极，GEM-SP系列采用点接触极； 在常温下保存不会损害探测器性能； 严格保证效率、分辨率、峰型与峰康比等完整指标； 以晶体尺寸定义型号，同一型号的探测器采用相同的晶体结构和尺寸，从而保证了相当一致的效率曲线。 |
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最大数据通过率 |
大于100kcps（DSPEC-Pro在“增强通过率”模式下大于130kcps） |
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增益 |
粗调：1,2,4,8,16,或32 |
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细调：0.45至1.00 |
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成形时间常数 |
上升时间：0.8至23ms，可调，每步0.2ms，由计算机选择 |
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平顶时间：0.3至2.4ms，每步0.1ms，由计算机选择 |
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自动最优化功能自动调整 |
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转换增益 |
16384，8192，4096，2048，1024或512道，由计算机选择 |
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非线性 |
积分非线性：≤±0.025% |
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微分非线性：≤±1% |
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数字化稳谱器 |
由计算机控制并稳定增益和零点 |
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温度系数 |
增益:<35ppm/°C |
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零点:<3ppm/°C |
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过载恢复 |
在最大增益时，能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内 |
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脉冲抗堆积 |
自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns |
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自动数字化极零调节 |
由计算机控制，可以手动或自动设定，远程模拟示波器方式诊断 |
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LLD/ULD |
数字下域电平甄别器，以道为单位设置，LLD以下所有各道的计数被卡掉 |
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数字上域电平甄别器，以道为单位设置，ULD以上所有各道的计数被卡掉 |
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数字化门控基线恢复器 |
可由计算机调节恢复频率（高、低或自动） |
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数据存储器 |
存储16384道数据，不丢失，每道容量231-1（约20亿）个计数 |
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计数率显示 |
在谱仪或电脑屏幕上显示计数率 |
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死时间校正 |
按Gedcke-Hale法活时间校正，精度（随峰面积而变化）：<+3%(0–50,000cps) |
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显示 |
240×160像素背光液晶显示(LCD屏，显示活时间、死时间、状态等信息 |
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接口 |
USB2.0 |
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尺寸与重量 |
-LF，-jr2.0,-Pro：24.9D×20.3W×8.1Hcm/1.0kg |
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DIM：11.2D×3.13W×6.5Hcm/240g |
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DigiDart：20D×10W×7.5Hcm/＜900g（含电池） |
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工作环境条件 |
-LF，-jr2.0,-Pro5°C到50°C（包括LCD显示） |
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DigiDART-10°C到60°C |
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操作系统 |
Windows98/2000/XP/Vista/NT |
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最大数据通过率 |
大于100kcps（DSPEC-Pro在“增强通过率”模式下大于130kcps） |
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增益 |
粗调：1,2,4,8,16,或32 细调：0.45至1.00 |
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成形时间常数 |
上升时间：0.8至23ms，可调，每步0.2ms，由计算机选择 平顶时间：0.3至2.4ms，每步0.1ms，由计算机选择 自动最优化功能自动调整 |
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转换增益 |
16384，8192，4096，2048，1024或512道，由计算机选择 |
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非线性 |
积分非线性：≤±0.025% 微分非线性：≤±1% |
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数字化稳谱器 |
由计算机控制并稳定增益和零点 |
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温度系数 |
增益:<35ppm/°C |
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过载恢复 |
在最大增益时，能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内 |
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脉冲抗堆积 |
自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns |
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自动数字化极零调节 |
由计算机控制，可以手动或自动设定，远程模拟示波器方式诊断 |
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LLD/ULD |
数字下域电平甄别器，以道为单位设置，LLD以下所有各道的计数被卡掉 数字上域电平甄别器，以道为单位设置，ULD以上所有各道的计数被卡掉 |
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数字化门控基线恢复器 |
可由计算机调节恢复频率（高、低或自动） |
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数据存储器 |
存储16384道数据，不丢失，每道容量231-1（约20亿）个计数 |
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计数率显示 |
在谱仪或电脑屏幕上显示计数率 |
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死时间校正 |
按Gedcke-Hale法活时间校正，精度（随峰面积而变化）：<+3%(0–50,000cps) |
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显示 |
240×160像素背光液晶显示(LCD屏，显示活时间、死时间、状态等信息 |
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接口 |
USB2.0 |
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尺寸与重量 |
-LF，-jr2.0,-Pro：24.9D×20.3W×8.1Hcm/1.0kg DIM：11.2D×3.13W×6.5Hcm/240g DigiDart：20D×10W×7.5Hcm/＜900g（含电池） |
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工作环境条件 |
-LF，-jr2.0,-Pro5°C到50°C（包括LCD显示） |
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操作系统 |
Windows98/2000/XP/Vista/NT
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5.ORTEC数字化谱仪性能比较
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数字化谱仪 |
DSPEC-502 |
DSPEC-jLF |
DSPEC-ji-2.0 |
DSPEC-Pro |
digiDART |
digiDART-LF |
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特性 |
双路高性能 |
普通 |
高端 |
动态测量 |
便携式 |
便携式 |
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γ探测器 |
HPGe |
HPGe |
HPGe |
HPGe |
HPGe/NaI/LaBr |
HPGe/NaI/LaBr |
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自动优化 |
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数字化自动极零 |
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零死时间校正ZDT |
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内置虚拟示波器 |
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弹道亏损校正 |
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数字化门控基线恢复 |
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低频抑制器LFR |
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x |
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序列模式List Mode |
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x |
x |
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x |
x |
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最大数据通过率（kcps，关闭LFR) |
100 |
100 |
100 |
130 |
100 |
100 |
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MCA道数 |
16384 |
16384 |
16384 |
16384 |
16384 |
2048 |
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与探测器接口 |
分散/DIM |
DIM |
DIM |
DIM |
DIM |
DIM |
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与PC接口 |
Ethernet/USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
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工作温度（℃） |
0-50 |
0-50 |
0-50 |
0-50 |
-10-60 |
-10-60
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三、制冷方式：
ORTEC除了传统的液氮制冷方式外，还有电制冷、Mobius液氮回凝制冷，最近又新推出了ICS集成电制冷。
1.X-COOLER III电制冷
X-COOLER-III是ORTEC于1998年推出的第三代电致冷产品，采用世界范围内迄今应用比较广泛的高纯锗电制冷技术，可与任何体积、大小的、采用Pop Top结构的高纯锗探测器匹配；
省钱！省事！！省心！！！
避免了填充液氮的累赘和安全隐患；
探测器方位可灵活调整；
与ORTEC所有PopTop结构高纯锗探测器匹配；
已在世界范围内广泛应用，在中国的运行数量超过100台套。
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外形尺寸 |
压缩机长31.8cm，宽31.8cm，高28cm |
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重量 |
压缩机16.4 kg；冷指5 kg |
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输入电源 |
交流220–240 V，50 Hz |
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功耗 |
启动时小于500W；正常运行时小于400W |
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致冷剂 |
混合气体，不含CFC |
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连接软管 |
压缩机机箱和冷头用3米长软管相连 |
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环境适应性 |
温度：5–30°C，相对湿度：5–95% 无冷凝
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2.MOBIUS液氮回凝制冷器
仍采用液氮制冷，但采用Sun Power斯特林压缩机使其在相当长周期内保持液氮水平，从而维系探测器在低温下工作；
断电情况下可靠液氮维系制冷，工作的连续性得到更好保障；
减少液氮填充的材料与人力消耗成本；
控制/显示电路与电源同杜瓦分离而不会受到液氮影响；
28升液氮罐，不断电情况下可连续工作近两年；
可匹配垂直或水平冷指。
自带感应与控制元件，以文字或数字形式显示如下信息：制冷状态：是否在液氮循环状态；>在当前制冷状态下所能维持的制冷时长（以小时数显示）。
制冷维系时长为48小时时，给出提示，并报警。
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数字化谱仪 |
DSPEC-502 |
DSPEC-jLF |
DSPEC-ji-2.0 |
DSPEC-Pro |
digiDART |
digiDART-LF |
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特性 |
双路高性能 |
普通 |
高端 |
动态测量 |
便携式 |
便携式 |
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γ探测器 |
HPGe |
HPGe |
HPGe |
HPGe |
HPGe/NaI/LaBr |
HPGe/NaI/LaBr |
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自动优化 |
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数字化自动极零 |
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零死时间校正ZDT |
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内置虚拟示波器 |
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弹道亏损校正 |
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数字化门控基线恢复 |
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√ |
√ |
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低频抑制器LFR |
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x |
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x |
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序列模式List Mode |
√ |
x |
x |
√ |
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x |
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最大数据通过率（kcps，关闭LFR) |
100 |
100 |
100 |
130 |
100 |
100 |
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MCA道数 |
16384 |
16384 |
16384 |
16384 |
16384 |
2048 |
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与探测器接口 |
分散/DIM |
DIM |
DIM |
DIM |
DIM |
DIM |
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与PC接口 |
Ethernet/USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
USB2.0 |
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工作温度（℃） |
0-50 |
0-50 |
0-50 |
0-50 |
-10-60 |
-10-60 |
