1.产品特点:
EIGER2 R融合了混合光子计数的所有高端性能。小尺寸像素与直接探测相结合。实现了高空间分辨率和角分辨率,使您在倒易空间内进行精细样品的测量。出色的计数率性能确保了即使是最高强度X射线的信号 也能被精确测量,通过无死区时间的同步读写,即使在长时间曝光期间,您也可以充分利用该探测器系列的广泛动态范围。双能量识别可以实现深度背景抑制,并提高信噪比,特别适用于处理微弱信号和长期曝光的情况,借助可选择的真空兼容性,您可以消除空气和窗口引起的吸收和散射。我们提供四种不同型号以满足您的需求 。
2.核心优势:
DECTRIS即时在触发技术实现几乎线性的响应和卓越的计数率。
由于探测器具有零背景噪音,出色的计数率和和同时读写性能,实现了最大可能的动态范围。
直接探测和小尺寸像素相结合,实现了最佳的光斑分离,最小的背景重叠,以及更好的信噪比。
双能量识别有助于抑制低能量和高能量背景。
借助数字计数和读出技术,该探测器实现了零读出噪音或暗电流,可提供最佳的信噪比。
3.应用领域:
X射线单晶衍射
X射线粉末衍射
(SAXS/WAXS)小角X射线散射和广角X射线散射
EXAFS,XANES 扩展X射线吸收精细结构, X射线吸收近边结构
4.技术参数:
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EIGER2 R |
250K |
500K |
1M |
4M |
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有效面积:宽x高 [mm2] |
38.4 x 38.4 |
77.1 x 38.4 |
77.1 x 79.7 |
155.1 X 162.2 |
|
像素阵列 [宽x高] |
512 x 512 |
1028 x 512 |
1028 x 1062 |
2068 x 2162 |
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像素大小 [μm2] |
75 x 75 |
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能量范围(keV) |
5.4-22.2 |
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能量阈值数量 |
2 |
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阈值范围(keV) |
3.5-30 |
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计数率 (最大@8kev)[phts/s] |
3.8×106 |
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单位面积计数率 (最大@8kev)[phts/s/mm²] |
6.7×108 |
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帧频[1] [Hz] |
50 |
50 |
100 |
20 |
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读出时间[2] |
连续 |
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传感器材料 |
硅 |
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传感器厚度 [μm] |
450 |
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点扩散函数 |
1 pixel |
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真空兼容性 |
可选 |
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冷却方式 |
风冷 |
风冷 |
水冷 |
水冷 |
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尺寸(WHD)[mm3] |
100 x 140 x 93 |
100 x 140 x 93 |
114 x 133 x 240 |
235 x 235 x 372 |
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重量 [kg] |
1.8 |
1.8 |
4.7 |
15 |
【1】可选择校准来扩展能量范围
【2】两次曝光之间的有效死时间<100ns(最大损失1count/pixel)