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产品详情
1.产品特点：
EIGER2 R CdTe X 射线探测器融合了最新的HPC技术成果和碲化镉传感器的高量子效率，使其成为在使用高能量X射线源或需要双波长装置实验室中变得不可获缺。DECTRIS的专利技术“即时再触发”赋予了它前所未有的高计数率能力，因此能够更精确地测量实验室光源能达到的最高强度。这些探测器配备有双能量识别阈值，相较于前代探测器系列，其对环境引起的暗计数更低。这显著提高了微弱信号和长时间曝光的信噪比，从而缩短了测量时间，提高了数据质量。通过单光子计数与连续读/写相结合，克服了所有饱和问题以及积分探测器动态范围的限制。此外，直接探测和75微米的小像素尺寸确保了高空间和角度分辨率。
2.核心优势：
结合DECTRIS即时在触发技术实现卓越的计数率。
通过零探测器背景噪音，卓越的计数率与和同步读/写性能，实现了最高可能的动态范围。
直接探测和小尺寸像素相结合，实现了最佳的光斑分离，最小的背景重叠，以及更好的信噪比。
借助数字计数和读出技术，探测器实现了零读出噪音或暗电流，实现了最佳的信噪比。
双能量阈值可抑制低能量和高能量背景。
3.应用领域：
X射线单晶衍射
粉末X射线衍射
(SAXS/WAXS）小角X射线散射和广角X射线散射
μCT X射线计算机显微成像
4.技术参数：
【1】可选择校准来扩展能量范围
【2】两次曝光之间的有效死时间＜100ns（最大损失1count/pixel）
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