产品中心
PRODUCT
首页 > 产品中心 > 核测量仪器与系统 > “宽能”高纯锗(HPGe)探测器
ORTEC“宽能”高纯锗探测器
品牌:ORTEC
产地:美国
型号:GEM-S/GEM-C/GEM-SP
产品详情


一、“宽能”探测器:GEM-S/GEM-C/GEM-SP

  • 三个系列可选:“精锐”、“全优”和“超精锐”

  • 性能指标上综合了传统GEM与GMX探测器的优势;能量下限降至3keV;分辨率优异;中低能段效率显著提升;

  • GEM-S和GEM-C系列采用超薄可靠接触极,GEM-SP系列采用点接触极;

  • 在常温下保存不会损害探测器性能; 

  • 严格保证效率、分辨率、峰型与峰康比等完整指标;

  • 以晶体尺寸定义型号,同一型号的探测器采用相同的晶体结构和尺寸,从而保证了相当一致的效率曲线。

1、精锐系列:GEM-S1.png

2、全优系列:GEM-C系列2.png

3、超精锐系列:GEM-SP系列:3.png

以上型号通常采用整体低本底碳纤维外罩封装,型号上有LB-C后缀,同时匹配CFG-SV-LB超低本底冷指。探测器出厂时保证以上全部指标并提供本底谱图。

二、标准形制同轴探测器:GEM-F/GEM-M

应用(测量)中如不关注低能射线,ORTEC提供基于传统GEM工艺、但以晶体尺寸定义型号的探测器。

1、GEM-F系列:短同轴探测器(尤其适合于滤纸/滤膜等扁平样品)

4.png

2、GEM-M系列:同轴探测器 (尤其适合于体源/马林杯样品)

5.png

GEM-S8530、GEM50和GMX50效率比较

(点源,与端帽距离25cm)

GEM-S8530、GEM50和GMX50效率比较

(直径100mm滤纸源放在端帽上)

         

 


北京泰坤工业设备有限公司 侵权必究 京ICP备12018226号
法律声明 · 技术支持 Powered by lc787
关注我们